มาตรวัดความหนาฟิล์ม ผลิตภัณฑ์และบริการ

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์และบริการ

■ลักษณะพิเศษ
[Spectrum Ellipsometer]
สามารถวัดวัสดุฟิล์มหลายแบบ ตั้งแต่ฟิล์มชั้นเดียวไปจนหลายชั้น สัมผัสได้จากปุ่มกด
ความหนาของชั้นฟิล์มไม่เป็นอุปกสรรค สามารถวัดได้ตั้งแต่ 1 นาโนเมตร ไปจนถึงหลายไมครอน
วัดแค่ครั้งเดียวก็ทำให้รู้ความหนาฟิล์มและอัตราการงอตัว
วัดแค่ครั้งเดียวก็ทำให้รู้กลุ่มจำนวนมาก รวบรวมข้อมูล Del ได้และวัด Optical Band Gap ได้

[มาตรวัดความหนาฟิล์มแบบสะท้อน]
เป็นมาตรวัดความหนาฟิล์ม Interference Thickness Meter ที่สามารถวิเคราะห์แสงด้วยจำนวนคงที่และสามารถวัดความหนาของฟิล์มที่เป็นชั้นๆได้ด้วยหลักการสะท้อนแสงของบริเวณตั้งแต่อุลตร้าไวโอเลตไปจนถึงโซนที่ใกล้กับอินฟราเรด
สามารถวัดความหนาฟิล์มได้ดีเยี่ยมจากการจำลองสถานการณ์ด้วยวิธีการแยกแสง ทำให้ไม่ต้องสัมผัส ไม่ต้องทำลายและมีความเที่ยงตรงสูง
รองรับพื้นที่สำหรับวัดได้ระยะกว้าง ตั้งแต่ฟิล์มบางไปจนฟิล์มหนา (10 นาโนเมตร – หลายไมครอน)

[Laser Ellipsometer]
วัดด้วยการจำลองสถานการณ์กับฟิล์มบางและด้วยอัตราส่วนการโค้งงอได้อย่างยอดเยี่ยม
วัดอัตราส่วนการโค้งงอได้พร้อมกันกับวัดความหนาฟิล์ม ;
ความหนาฟิล์มเหมาะสำหรับวัดจะต้องวัดที่ความหนาฟิล์มชั่นนเดียวตั้งแต่ 10 นาโนเมตรไปจนถึงหลายไมครอน
ใช้วัดความหนาฟิล์มและอัตราการโค้งงอ ได้แก่ ฟิล์มฉนวนออกไซด์ของ Semiconductor, ฟิล์มไนไตร, Resist, ITO เป็นต้น

* โปรดสอบถามข้อมูลเพิ่มเติมหรือดาวน์โหลดแคตตาล็อกได้

ตัวอย่างการนำไปใช้

[Spectrum Ellipsometer]
ได้แก่ Semiconductor, ซิลิคอนแสงอาทิตย์, แผ่นฟิล์มบางแสงอาทิตย์, LED, OLED, AMOLED, จอผลึก, จอสัมผัส, การเคลือบบนวัสดุต่างๆ

[มาตรวัดความหนาฟิล์มแบบสะท้อน]
ได้แก่ ฟิล์มสำหรับระบบทำงาน, พลาสติก, Semiconductor, Semiconductor ส่วนประกอบ, การจัดการผิวงาน, วัสดุ Optical, FPD เป็นต้น

[Laser Ellipsometer]
ได้แก่ Semiconductor, ซิลิคอนแสงอาทิตย์, แผ่นฟิล์มบางแสงอาทิตย์, LED, OLED, AMOLED, จอผลึก, จอสัมผัส, การเคลือบบนวัสดุต่างๆ

แคตตาล็อก

มาตรวัดความหนาฟิล์ม[3MB]

• ดาวน์โหลด

ประเภท

• หมวดหมู่ผลิตภัณฑ์

  >เครื่องชั่ง/เครื่องวัด/สินค้าที่เกี่ยวข้อง/บริการที่เกี่ยวข้อง

  >เครื่องวัดความหนาฟิล์ม

• วงการธุรกิจ

  >เครื่องจักร・เครื่องมือทางอุตสาหกรรม