ราคา |
|
---|---|
กำหนดการส่งมอบสินค้า |
|
สต็อกในประเทศไทย |
|
URL |
|
ธุรกิจเป้าหมาย |
เครื่องจักร・เครื่องมือทางอุตสาหกรรม |
■ลักษณะพิเศษ
[Spectrum Ellipsometer]
สามารถวัดวัสดุฟิล์มหลายแบบ ตั้งแต่ฟิล์มชั้นเดียวไปจนหลายชั้น สัมผัสได้จากปุ่มกด
ความหนาของชั้นฟิล์มไม่เป็นอุปกสรรค สามารถวัดได้ตั้งแต่ 1 นาโนเมตร ไปจนถึงหลายไมครอน
วัดแค่ครั้งเดียวก็ทำให้รู้ความหนาฟิล์มและอัตราการงอตัว
วัดแค่ครั้งเดียวก็ทำให้รู้กลุ่มจำนวนมาก รวบรวมข้อมูล Del ได้และวัด Optical Band Gap ได้
[มาตรวัดความหนาฟิล์มแบบสะท้อน]
เป็นมาตรวัดความหนาฟิล์ม Interference Thickness Meter ที่สามารถวิเคราะห์แสงด้วยจำนวนคงที่และสามารถวัดความหนาของฟิล์มที่เป็นชั้นๆได้ด้วยหลักการสะท้อนแสงของบริเวณตั้งแต่อุลตร้าไวโอเลตไปจนถึงโซนที่ใกล้กับอินฟราเรด
สามารถวัดความหนาฟิล์มได้ดีเยี่ยมจากการจำลองสถานการณ์ด้วยวิธีการแยกแสง ทำให้ไม่ต้องสัมผัส ไม่ต้องทำลายและมีความเที่ยงตรงสูง
รองรับพื้นที่สำหรับวัดได้ระยะกว้าง ตั้งแต่ฟิล์มบางไปจนฟิล์มหนา (10 นาโนเมตร – หลายไมครอน)
[Laser Ellipsometer]
วัดด้วยการจำลองสถานการณ์กับฟิล์มบางและด้วยอัตราส่วนการโค้งงอได้อย่างยอดเยี่ยม
วัดอัตราส่วนการโค้งงอได้พร้อมกันกับวัดความหนาฟิล์ม ;
ความหนาฟิล์มเหมาะสำหรับวัดจะต้องวัดที่ความหนาฟิล์มชั่นนเดียวตั้งแต่ 10 นาโนเมตรไปจนถึงหลายไมครอน
ใช้วัดความหนาฟิล์มและอัตราการโค้งงอ ได้แก่ ฟิล์มฉนวนออกไซด์ของ Semiconductor, ฟิล์มไนไตร, Resist, ITO เป็นต้น
* โปรดสอบถามข้อมูลเพิ่มเติมหรือดาวน์โหลดแคตตาล็อกได้
[Spectrum Ellipsometer]
ได้แก่ Semiconductor, ซิลิคอนแสงอาทิตย์, แผ่นฟิล์มบางแสงอาทิตย์, LED, OLED, AMOLED, จอผลึก, จอสัมผัส, การเคลือบบนวัสดุต่างๆ
[มาตรวัดความหนาฟิล์มแบบสะท้อน]
ได้แก่ ฟิล์มสำหรับระบบทำงาน, พลาสติก, Semiconductor, Semiconductor ส่วนประกอบ, การจัดการผิวงาน, วัสดุ Optical, FPD เป็นต้น
[Laser Ellipsometer]
ได้แก่ Semiconductor, ซิลิคอนแสงอาทิตย์, แผ่นฟิล์มบางแสงอาทิตย์, LED, OLED, AMOLED, จอผลึก, จอสัมผัส, การเคลือบบนวัสดุต่างๆ
ภาษาที่รองรับ
ภาษาไทย ภาษาญี่ปุ่น ภาษาอังกฤษ ภาษาจีน
*เป็นหัวข้อที่จำเป็นต้องกรอก